长鑫存储“晶圆测试结构及其制作方法、晶圆”专利获授权

存储器 2023-09-15 16:44

天眼查显示,近日长鑫存储新增多项专利信息,其中一条名称为“晶圆测试结构及其制作方法、晶圆”,公开号为CN113517260B,法律状态显示该专利已获授权。专利摘要显示,本申请提供一种晶圆测试结构及其制作方法、晶圆,涉及半导体技术领域,用于解决晶圆测试结构所占用空间较大的技术问题。

简讯快报

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