聚焦内存测试与SLT验证,泓京纬助力存储产业高质量发展

厂商动态 泓京纬 Andy 2026-05-25 19:11

随着存储产品向高速率、高容量和高可靠性方向发展,测试环节在产品研发验证、量产筛选和品质保障中的作用愈发重要。面向移动终端、消费电子、工业级应用以及服务器/数据中心等场景,存储芯片测试设备需要具备更高并行能力、更稳定的测试环境和更完整的数据追溯能力。

深圳泓京纬科技有限公司是一家专注于存储芯片测试领域的高新技术企业,业务涵盖测试设备研发、芯片软硬件设计、生产制造及整体应用解决方案输出。公司目前拥有100+员工、50+研发工程师,并在深圳、上海、厦门、东莞、香港等地形成总部、研发、制造、销售及供应链布局,持续为客户提供从研发验证到量产测试的一站式解决方案。

在内存测试方向,泓京纬产品覆盖LPDDR4/4X/5/5X/6、DDR3/4/5、RDIMM、HBM、Wafer CP等测试需求,可面向嵌入式、移动端、服务器及工业级存储产品提供测试设备与技术支持。其测试体系涵盖高并行测试、宽温验证、老化测试、数据采集与追溯等能力,满足不同客户在研发、试产和量产阶段的应用需求。

在SLT测试机台方面,泓京纬已形成面向LPDDR及DDR产品的高并行测试方案。例如,LPDDR4X SLT测试设备支持4266 Mbps测试速率、1920 DUTs并行能力,测试功能涵盖ATE+SLT;LPDDR5X SLT测试设备支持8533 Mbps测试速率、1920 DUTs并行能力,并覆盖245Ball、315Ball、496Ball等封装形态,可满足移动终端存储产品的大规模量产与可靠性验证需求。

针对企业级应用,泓京纬还布局DDR4/DDR5 DRAM颗粒测试及DDR5 RDIMM模组测试系统。其中,DDR5 RDIMM模组测试系统面向数据中心与企业级服务器应用,支持功能、参数、时序、ECC、PPR及老化测试,并支持主流服务器平台验证,帮助客户提升企业级内存产品的可靠性与一致性。

未来,泓京纬将继续围绕存储芯片测试设备、芯片测试服务和整体解决方案交付,持续完善SLT、ATE、Burn-in、CP及企业级模组测试能力,为存储产业链客户提供更高效、稳定、可靠的测试产品与服务。 

设备整机图

测试场景图

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