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Sandisk U100系列SDSA5DK-064G-Q SSD产品测试报告

测试日期:2011-11-15 编号:T11110955

种类:固态硬盘 品牌:西部数据/闪迪
适用领域: 平板电脑超极本

  • 容量:64GB
  • 主控:SanDisk原厂
  • 尺寸:-
  • 接口:mSATA 6Gbps
  • Flash:24nm MLC ABL

测品介绍

Sandisk U100系列SSD是采用mSATA接口,多种存储规格,存储容量有8GB、16GB、24GB、32GB、64GB、128GB,稳定可靠的SSD性能帮助移动客户即时启动、更快的应用程序启动速度、更强的多任务处理能力以及更加高效的移动计算体验,精致小巧、成本经济,为当今的超极本和平板电脑提供快速存储解决方案。

测试环境

主板芯片组

CPU

内存

操作系统

AMD A75 Chipset

AMD A4-3300 2.5GHz

3GB DDR3

Windows7/XP

Intel P67 Chipset

Intel i3-2100 3.10GHz

2GB DDR3

Windows7

测试内容

1
拷贝测试

测试结果:样品作为数据盘,拷贝各种不同类型文件测试五次,均测试OK。

2
读写性能测试

测试结果:

1.ATTO Disk Benchmark性能测试

 

 

2.AS SSD Benchmark数据传输测试

SSD连续读写测试:

 

 SSD随机读写测试:

 

 

3.CrystalDiskMark软件性能测试

 

3
容错性测试

测试结果:

OS

反复重启测试

非法拔插测试

反复休眠测试

备注

Win 7

PASS

PASS

PASS

 

注 (测试标准) :反复重启测试:SSD安装操作系统后,利用自动重启软件进行反复重启测试,测试1000次以上,系统都能正常启动,测试后SSD工作正常。
非法拔插测试:SSD安装操作系统后,在对SSD进行读写文件操作时,对电脑进行断电,测试1000次以上,系统能够正常启动,测试后SSD工作正常。 
反复休眠测试:SSD安装操作系统后,在Burnin的情况下,利用Sleeper软件进行反复休眠唤醒测试,测试1000次以上,Burnin运行正常,系统正常。
4
老化测试

测试结果:

编号

主板芯片组

老化时间

cycle

Error()

备注

win7数据盘老化(BurninTest

1#

AMD A75

47h23m

13086

0

Default,FileSize1.00

系统老化测试(SSD中安装Win 7操作系统后Burnin 系统分区)

2#

AMD A75

95h42m

70562

0

随机数、FileSize1.0

系统老化测试(SSD中安装WinXP操作系统后Burnin 系统分区)

1#

AMD A75

43h47m

302445

0

随机数、FileSize0.01

5
整机功耗测试

测试结果:

 

Power Requirements

Input Voltage

5V ± 5% @25

Mode

Max .(mA)

Max .(W)

capacity

1#

Idle(peak)

125

0.6

59.5GB

Read(peak)

340

1.7

Write(peak)

480

2.4

评测细节图