Samsung型号为KLMAG2GE4A-A001的eMMC嵌入式存储产品，符合JEDEC发布的JEDEC eMMC 4.41版标准，存储容量为16GB，尺寸大小为12mmx16mm，且采用自家高性能NAND Flash和VHX控制器芯片，适用于平板电脑、智能手机等移动设备。测试报告中将对该产品进行速度测试、读卡器电流及容量测试以及常温BurnIn测试等。
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电脑编号
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主板芯片组
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CPU
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内存
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操作系统
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CSH-217
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Intel Z77
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Intel（R）Pentium（R）CPU G620@2.6GHz
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4GB DDR3
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WinXP+SP3
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CSH-178
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AMD ID1705+ID780E
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AMD A4-3300 APU with Radeon(tm) HD
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3GB DDR3
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CSH-232
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MSI FM2-A75MA-E35(MS-7721)
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AMD A4-5300 APU with Redeom HD Graphics
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4GB DDR3
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CSH-214
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Intel H61
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Intel(R)Pentium(R)CPU G620@2.60GHz
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4GB DDR3
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Win7 32位
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测试结果：来样共5片样品拷贝满盘文件然后匹配，均拷贝匹配OK。
测试结果：
1.HDBENCH软件测试
未拷贝前：
测试结果：
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样品
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测试模式
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测试结果
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1#
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文件方式超稳
（V1.5）
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1片样品测试6825次OK
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3#、5#
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随机扇区方式超稳定（V1.8.11）
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2片样品分别测试7745次和6401次OK
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2#、4#
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固定扇区方式超稳定（V1.3）
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2片样品分别测试5054次和11623次OK。
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测试结果：
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编号
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待机电流
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写电流
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读电流
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读写后待机
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4K random
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512K Sequential
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4K Random
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512K Sequential
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2#
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119uA
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43.66-93.90mA
Avg:68.86mA
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80.23-101.60mA
Avg:97.45mA
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27.45-28.87mA
Avg:28.06mA
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59.61-64.17mA
Avg:62.21mA
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127uA
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5#
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123uA
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42.75-92.21mA
Avg:71.68mA
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67.91-100.34mA
Avg:95.26mA
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25.54-28.63mA
Avg:27.82mA
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58.96-64.04mA
Avg:61.57mA
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133uA
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测试结果：
5.1 常温Burnin测试：BurnIn test File size：1.0%
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编号
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主板芯片组
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Duration
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cycle
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Error
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备注
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读卡器型号
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3#
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Intel Z77
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89h05m
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3658
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0
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默认数据
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RTS5187
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4#
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34h17m
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1275
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1
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默认数据
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RTS5187
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4# BurnIn34h17m后出现数据校验错
以上2片样品BurnIn后重新上盘拷贝文件测试，均拷贝匹配OK
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5.2带擦除命令Burnin测试
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编号
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主板芯片组
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Duration
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cycle
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Error
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备注
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读卡器型号
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2#
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AMD ID1705+ID780E
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38h12m
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2807
|
0
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DM8261
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DM8261
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5#
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38h12m
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2782
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0
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DM8261
|
DM8261
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以上2片样品BurnIn后重新上盘拷贝文件测试，均拷贝匹配OK
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